Оборудование в Киеве

Микроскоп инструментальный МИС-11
МИС-11 двойной Линника
Микроскоп двойной позволяет производить измерения высоты неровностей профиля поверхностей в пределах от 0,8 микрона до 62,5 микрона, то есть определять класс чистоты поверхности с 3 по 9 включительно, согласно ГОСТу № 2789-45. С помощью микроскопа МИС-11 можно проводить обмеры профиля наружных поверхностей плоских и цилиндрических.
Микроскоп двойной типа МИС-11 снабжен двумя тубусами-осветительным и визуальным, расположенными под углом 90° друг к другу. Тубусы и предметный столик монтированы на удобном устойчивом штативе, обеспечивающем жесткость системы и удобством работы.
Для установки исследуемой детали имеется массивный столик, имеющий возможность передвижения по осям X и Y. Столик снабжен призмой для укладки цилиндрических изделий различных диаметров. Величина перемещения столика в двух взаимно перпендикулярных направлениях ( по оси Х и оси Y ) – 10 мм. Цена одного деления барабанчика микрометрического винта для перемещения столика равна 0,01 мм.
Освещение щели осветительного тубуса производится от лампы 8 В, для чего к прибору прикладывается понижающий трансформатор, работающий от сети 220В, 50Гц.
Для визуального наблюдения и промеров прибор снабжается микрометром окулярным винтовым.
Габаритные размеры ( в таре) 297×510×465 мм.